机译:使用CLASS实验的样本方差有限E模式测量估算电离光深
机译:高迁移率的电离历史。 Ⅱ。从宇宙微波背景极化估计汤姆森散射的光学深度
机译:高红移时的电离历史。二。从宇宙微波背景偏振估计汤姆森散射的光学深度
机译:CALIPSO气溶胶光学深度测量和气溶胶类型估计的案例研究和比较
机译:来自CAPMAP实验的高多极CMB E模式功率谱的新测量结果,以及B模式功率的新限制。
机译:使用IOLMaster扫描周边前房深度分析仪和前段光学相干断层扫描进行前房深度测量的比较
机译:高红移的再电离历史II:估算光学 从CmB极化到Thomson散射的深度
机译:基于sGp臂部位的浊度计测量的气溶胶光学深度估计